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Organización.
Unidades de Apoyo

ICMM-CSIC

Difracción de Rayos X

 

Responsables científico

Dr. Enrique Gutiérrez Puebla

Dr. Felipe Gándara Barragán.


Responsable científico de análisis de texturas y lámina delgada

Dr. Federico Mompeán García


Responsable técnico

Dra. Fátima Esteban Betegón


Descripción

El laboratorio de Difracción de Rayos X del Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid ofrece, tanto a usuarios del ICMM como a usuarios externos, acceso a su equipamiento para la caracterización cristalográfica a través de distintas técnicas de difracción de rayos X.


Prestaciones y equipamiento
  • Realización de diagramas de difracción de rayos X por el método de polvo a través de 3 difractómetros:
    • Difractómetro de polvo Bruker D8 Advance, con fuente de rayos X de radiación de Cu Kα, y con detector rápido sensible a la posición. Opera en modo de reflexión, theta-theta.
    • Difractómetro de polvo Bruker D8 Advance, con fuente de rayos X de radiación de Cu Kα, con detector de centelleo y detector rápido sensible a la posición, intercambiables. Opera en modo de reflexión, theta-2theta.
    • Difractómetro de polvo Bruker D8 Advance A25 con fuente de rayos X de radiación de Cu Kα, con detector rápido PSD-XE con discriminación positiva de energía, y configuración con reconocimiento óptico de los componentes (DAVINCI). Opera en modo de reflexión, theta-theta.
  • Caracterización morfológica y estructural de muestras en forma de láminas delgadas, epitaxiales, multicapas y superficies monocristalinas, entre las que cabe destacar estudios de estrés, calidad cristalina, orientación en superficies, o mapas de espacio recíproco. Para ello cuenta con:
    • Difractómetro 4 círculos de análisis de texturas Bruker D8 Advance con fuente de rayos X de radiación de Cu Kα, paso óptico con espejos Goebel, y detectores de centello y sensible a la posición. Para el tratamiento de datos, el Servicio cuenta con el programa LEPTOS de Bruker
  • Caracterización cristalográfica y resolución estructural de muestras monocristalinas:
    • Difractómetro de monocristal D8 Bruker con radiación Cu Kα y detector Vantec 500.
  • Tratamiento de datos: El Servicio cuenta con programas para el análisis de los datos obtenidos, así como acceso a bases de datos cristalográficas. También posee dos estaciones de trabajo de alto rendimiento situadas en el mismo laboratorio a disposición de los usuarios.

Los equipos están homologados por el Ministerio de Industria energía y Turismo, cumplen la normativa del Consejo de Seguridad Nuclear y están revisados con la periodicidad requerida.

Situación

Laboratorio 023/025


Horario del personal técnico

09:00 - 16:00

Teléfonos

Felipe Gándara 437 014

Enrique Gutiérrez 437 054

Fátima Esteban 437 023 llamada desde el exterior 91 33 36 870

 

Correo electrónico

rayos.x@icmm.csic.es

 

Tarifas

Tarifa actual (2021)

 

Acceso

El Servicio de Difracción de Rayos X del ICMM ofrece acceso a su equipamiento tanto en modo presencial (autoservicio), como en modo remoto mediante envío de muestras. Para acceder al modo auto-servicio es necesario realizar un curso formativo sobre el uso de los difractómetros de polvo con los que cuenta el Servicio. Se solicitará escribiendo un email a la dirección del Servicio. Una vez realizada la formación en el manejo de los equipos, se deberá cumplimentar los siguientes documentos:

  • Normas de uso de la Unidad de Apoyo de Difracción de Rayos X
  • Declaración de conocimiento y buen uso de la Unidad de Apoyo y certificación del responsable del usuario/a

Acceso a la pizarra de reservas de los difractómetros de rayos X del ICMM:

Pizarra para reservar los difractometros del Servicio de Rayos X del ICMM

 

 

     

ICMM-2022 - Sor Juana Inés de la Cruz, 3, Cantoblanco, 28049 Madrid, España. Tel: +34 91 334 9000. info @ icmm.csic.es